科學家正在研究的針尖增強拉曼散射(TERS)技術有助於確定材料相互作用時產生的局部應變,甚至確定納米材料的缺陷。
托木斯克理工大學激光和光技術教研室教授勞爾·羅德里格斯表示,這些數據有助於改進超小型現代電子器件(即納米電子器件)組件,用於制備柔性顯示器、柔性光學和計算電路、太陽能電池及其他創新型設備。
羅德里格斯稱:"為制備電子器件所需所有部件,需要用到各個級別的二維材料,包括半導體。我們的目標是研究納米材料中產生的應變及其在不同結構中拉伸或收縮的過程。"
為此,科學家使用了金納米粒子--納米三角片,表面放置兩個單層二硫化鉬。納米三角片的凸起形狀使二硫化鉬發生變形,產生1.4%的局部應變。
羅德里格斯稱:"我們並沒想製造盡可能大的應變。但有趣的是,僅在金屬上放置二硫化鉬薄層就會發生如此顯著的變形。而制備納米器件,很重要的一點是要瞭解半導體(二硫化鉬)和導體(金)發生接觸時會有怎樣的反應。"
他指出,不可忽視納米器件中薄膜和基底之間的相互作用。
羅德里格斯表示:"研究這些材料的時候,所有特性(電子、能帶和光學性能)都是在平基底上進行研究的。但問題是,可用作電極的金屬的存在必然會改變材料特性。"
納米天線目前在德國生產,但專家表示,很快會將生產轉移至托木斯克理工大學。