文章作者們成功地把各種現代方法的所有優勢都在一個裝置中與納米尺度測量結合起來: 掃描探針顯微鏡學(分析物體表面和物理參數)、光學顯微光譜學(化學製圖與確定光學性質)，以及納米體層X線照相術(在許多X光片的基礎上進行物體內部結構的確切3D顯像)。各種方法這麼組合使用有助於同時記錄機械、電子、光學和化學性質的空間分布(例如：彈性、傳導性、磁性)。
莫斯科物理技術學院的主要學者、化學博士、教授伊戈爾·納比耶夫指出，“這個工具性方法把掃描顯微鏡學和光學顯微光譜學的一切優勢保持下來，有助於在高效結合兩種方法的情況下獲取多參數的3D特性。研究結果可能被用來把2D形式成功改造成3D形式”。
上述研究成果可能在系統分析生物纖維樣本時採用。此外，在製造無缺陷納米材料時，它為質量控制領域開闢了新的機會，也會解決納米安全問題及與此相關的確定納米粒子滲透進各種機體和生物體組織的任務提供了新的可能性。
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